BEX-8508C,P型N型霍尔效应实验装置
仪器特点:
1.提供P型和N型两种硅基半导体霍尔片。
2.双掷开关可即时切换待测P型和N型霍尔片。
3.全明接线,开放式霍尔片和刀闸组件。
4.小于5mm的磁隙,提供大于500mT的均匀磁场。
5.开放式、模块化、数字化设计。
主要实验内容:
1.研究霍尔电压与霍尔片中工作电流的关系。
2.研究霍尔电压与磁感应强度(电磁铁励磁电流)的关系。
3.研究霍尔片不等位电势差对霍尔电压的影响和消除方法。
4.判断半导体材料的载流子类型。
5.研究P型和N型半导体材料的霍尔系数、载流子浓度、电导率和迁移率。 振镜式激光扫描实验装置,通过振镜控制激光,实现激光快速扫描与定位。光谱分析套件实验装置定制

Brolight博源光电专业提供教学仪器产品:【霍尔效应实验装置】【P型N型霍尔效应实验装置】【材料拉力与杨氏模量测量实验装置】【金属热膨胀系数实验装置】【塞曼效应实验装置】【弗兰克-赫兹实验装置】【电子荷质比实验】【光电效应实验装置】【核磁共振实验装置】【PN结和波尔兹曼常数】【金属电子逸出功实验装置】【理想真空二极管综合实验装置】【巨磁电阻效应实验装置】【激光原理实验装置】【光谱分析套件】【785nm拉曼测量实验装置】【iToF光速测量实验装置】【仿真辐射实验装置】【扫描隧道显微镜】【原子力显微镜】【电能无线传输演示实验装置】【LED综合特性测量装置】【振镜式激光扫描实验装置】【RGB颜色匹配实验装置】【激光雷达实验装置】【多通道红外辐射测量装置】【微波光学组合实验装置】【新能源实验装置】【太阳能电池基本特性实验装置】【氢氧燃料电池实验装置】等。浙江BEX-8508B 霍尔效应实验装置生产企业光谱分析套件可对物质进行定性与定量分析,借助光谱特征。

BEX-8501塞曼效应实验装置
【仪器特点】:
1.采用工业级的光学与光机械元件,通过欧盟CE安全认证。
2.采用电磁场,可获得0~1.2T的匀强连续可调磁场,可以观察到干涉圆环的分裂过程。并且可以140°旋转电磁线圈,可以观察水平方向的塞曼效应。
3.分别将滤光片和Fabry-Perot标准具,聚光透镜和偏振片集成,方便光路调节。
4.采用高分辨率的工业级USB相机,确保成像效果清晰。
5.高达1/100λ的法布里-帕罗标准具,确保获取清晰的图像。
6.采用智能分析软件。
【主要实验内容】:
1.观察垂直方向和水平方向的塞曼效应现象。
2.实时采集图像,并做数据处理。
3.计算电子荷质比e/m值。
BEX-8502A弗兰克赫兹实验装置
【实验原理】:
电子和原子碰撞时会交换某一定值的能量,且可以使原子从低能级激发到高能级。证明了原子发生跃变时吸收和发射的能量是分立的、不连续的,证明了原子能级的存在,从而验证了波尔理论。
【仪器概述】:
含有氩原子的真空电子管在灯丝的加热下产生大量的电子,电子在加速电压的加速下,与氩原子发生碰撞,进行了能量交换,剩余有较大能量的电子还能冲过反向拒斥电压而达到板极形成板极电流,该电流被微电流放大器测量得到,从而获得电流与电压的变化曲线。
【仪器特点】:
1.软件处理数据,快速准确画出波形曲线,明显看到6个波峰,快速计算电势差。
2.配合PASCO电压传感器或者数据采集接口,可以实时采集大量数据,软件处理,成为基于电脑的数据采集分析系统。
【实验内容】:
1、记录氩原子的弗兰克-赫兹曲线。
2、计算普朗克常数。
五、使用氩气管而无需加热:
相比与其他的气体(如汞蒸气),无需定制的加热装置,且其化学特性更稳定,实验过程中处于高激发态原子较少,实验结果更准确更稳定误差较小。
霍尔效应实验装置可用于测量磁场,基于载流子在磁场中受力偏移原理。

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光电效应实验装置可验证爱因斯坦光电效应方程,利用光照射金属板。光谱分析套件实验装置定制
SEK-8502原子力显微镜
【实验介绍】AFM采用对微弱力极其敏感的微悬臂作为力传感器──微探针。微悬臂一端固定,另一端置有一与微悬臂平面垂直的金字塔状微针尖。当针尖与样品之间的距离逼近到一定程度时,两者间将产生相互作用的原子力,其中切向力(摩擦力)Ft使微悬臂扭曲,法向(纵向)力Fn将推动微悬臂偏转。我们所关心的主要是纵向力Fn,它与针尖──样品间距成一定的对应关系,即与样品表面的起伏具有对应关系。微悬臂的偏转量十分微小,无法进行直接检测,采用光学方法将偏转量放大,可推知微悬臂偏转量(即原子力)的大小,可以获得样品表面的微观形貌。
【仪器特点】1.激光光源配置多自由度四维调节机构,方便快速准确地调节光斑在探测臂及PSD上的位置。2.卧式探头设计,降低整体重心,具有更好的抗震性及稳定性。3.探头具备粗调和细调功能,兼顾调节效率和准确度。4.开放式设计,方便学生了解仪器组成和工作原理。5.独特的压电陶瓷管装调工艺,保证整机的高可靠性和稳定性。
【主要实验内容】1.理解和掌握原子力显微镜的基本原理和组成。2.原子力显微镜的光路调节。3.光栅样品的测量和分析。4.硅基样品的测量和分析(扩展)。 光谱分析套件实验装置定制