北京光学非接触式总代理

称重传感器通过将机械力转换为电信号来测量重量和压力。当螺栓固定在结构梁或工业机器部件上时，应变式测力传感器将感测所施加的力对零件造成的压力。应变式称重传感器是工业称重和力测量的主要设备，将提供高精度和高稳定性的称重。应变式称重传感器的灵敏度和响应能力不断提高，使这些产品成为各种工业称重和测试应用的好的选择。当仪器直接放置在机械部件上时，称重单元中的应变测量通常更方便且更具成本效益，并且传感器可以容易地直接安装在机械或自动生产设备上，以更准确地测量重量和力。数据处理是光学非接触应变测量中非常重要的一步，能够提取有用信息并对测量结果进行分析和解释。北京光学非接触式总代理

光学应变测量系统（DIC）普遍应用于航空航天领域，用于测量和验证不同工况下结构的形变和振动情况，以一种高精度、非接触式、可视化全场测量的方式，替代传统的引伸计和应变片测量方法。该系统能够方便地整合到例如环境测试箱、风洞、疲劳测试台等测试环境，提供飞机制作过程中的材料测试、零部件检测、整机检测等各阶段的位移、应变测量等数据。飞机在高速飞行时由于气体与蒙皮材料表面摩擦，使大量动能转变为热能并传递到蒙皮表面，所以蒙皮材料在不同攻角、风速、温度中都会受到一定的影响。浙江高速光学非接触式应变测量系统在材料科学领域，光学非接触测量可以用于研究材料的力学性能和变形行为。

相位差测量：在光学非接触应变测量中，通常采用相位差测量的方法来获取应变信息。通过比较光栅在不同应变状态下的干涉图案，可以计算出相位差的变化，进而推导出应变值。数据处理：采集到的干涉图像会经过数字图像处理和信号处理的步骤，以提取出干涉图案中的相位信息。通过分析相位信息，可以计算出材料表面的位移、形变等信息，从而得到应变值。总的来说，光学非接触应变测量技术通过光学干涉原理和应变光栅的工作原理，实现对材料应变状态的测量。这种技术具有高精度、高灵敏度、无接触等优点，适用于对材料表面进行微小变形和应变状态的测量和分析。

金属应变计是一种用于测量物体应变的装置，其实际应变计因子可以从传感器制造商或相关文档中获取，通常约为2。由于应变测量通常很小，只有几个毫应变（10⁻³），因此需要精确测量电阻的微小变化。例如，当测试样本的实际应变为500毫应变时，应变计因子为2的应变计可以检测到电阻变化为2(50010⁻⁶)=。对于120Ω的应变计，变化值只为Ω。为了测量如此小的电阻变化，应变计采用基于惠斯通电桥的配置概念。惠斯通电桥由四个相互连接的电阻臂和激励电压VEX组成。当应变计与被测物体一起安装在电桥的一个臂上时，应变计的电阻值会随着应变的变化而发生微小的变化。这个微小的变化会导致电桥的电压输出发生变化，从而可以通过测量输出电压的变化来计算应变的大小。除了传统的应变测量方法外，光学非接触应变测量技术也越来越受到关注。这种技术利用光学原理来测量材料的应变，具有非接触、高精度和高灵敏度等优点。它能够通常使用光纤光栅传感器或激光干涉仪等设备来测量材料表面的位移或形变，从而间接计算出应变的大小。这种新兴的测量技术为应变测量带来了新的可能性，并在许多领域中得到了普遍应用。光学非接触式测量是在汽车研发中的应用。

作为美国 Correlated Solutions 公司（全球 DIC 技术创始者）的中国区合作伙伴，研索仪器构建了覆盖 "基础测试 - 特殊场景 - 行业定制" 的全维度产品体系，将国际技术与本土需求深度融合。其产品布局呈现出鲜明的多尺度、全工况适配特征，从微观材料分析到大型结构检测均能提供解决方案。在基础测量领域，VIC 系列产品构成了技术基石。VIC-2D 平面应变测量系统以超过 100 万数据点 / 秒的处理速度，支持光学畸变与 SEM 漂移校正，可在拉伸、压缩、弯曲等常规工况下快速输出平面应变云图，成为高校材料力学实验室的标准配置。VIC-3D 三维表面应变测量系统则通过双目立体视觉原理，实现了三维位移与应变场的同步测量，其行业前沿的精度与可重复性，可满足从金属材料到高分子复合材料的多样化测试需求。该系统搭载的先进算法不仅能输出位移、应变等基础参数，还可直接计算泊松比、杨氏模量等材料本构参数，为材料性能评估提供一站式数据支撑。对于两个层次布网，观测点及联测的控制点应按变形观测周期进行观测。上海三维全场数字图像相关变形测量

光学非接触应变测量利用光的干涉、散射或吸收特性推断材料的应变情况。北京光学非接触式总代理

实际光学应变测量系统往往综合利用多种物理机制。例如，数字图像相关法（DIC）同时依赖光强调制与几何变形约束，而电子散斑干涉术（ESPI）则结合了相位调制与散斑统计特性，这种多机制融合提升了测量的鲁棒性与精度。数字图像相关法（DIC）：从实验室到工业现场的普适化技术DIC通过对比变形前后两幅数字图像的灰度分布，利用相关函数匹配算法计算表面位移场，进而通过微分运算获得应变场。其流程包括：表面随机散斑制备、图像采集、亚像素位移搜索、全场应变计算。技术优势DIC的突破在于其普适性：对测量环境无特殊要求（可适应高温、真空、腐蚀等极端条件），对被测物体形状无限制（平面、曲面、复杂结构均可），且支持静态、动态、瞬态全过程测量。现代高速相机与GPU并行计算技术的发展，使DIC的实时处理速度突破每秒千帧，满足冲击等瞬态过程分析需求。北京光学非接触式总代理