半导体探测器是60年代以来迅速发展起来的一种新型的射线探测器。它经常被应用于各个领域，不同类型的半导体探测器在不同的方面都有其自身的特点。按形成半导体探测器PN结的方法，可将其分为两种：离子注入型和表面位垒型。离子注入半导体探测器在我国尚未被普遍使用，其辐射剂量特性正在开发当中，因而有很大的研究空间。钝化离子注入平面硅 (Pas-sivated Implanted Planar Silian，简称PIPS) 探测器，是半导体钝化离子注入的新工艺产品。
谱分析中效率刻度是定量分析的重要前提。效率刻度后可对所测样品进行定性分析。用户可以填写效率刻度相关信息，点击“加入刻度”，点击“拟合函数”，进行拟合。点击使用刻度应用于当前谱图。点击“打开刻度”可调用已保存的刻度，进行应用。
谱分析中的感兴趣区域，用户可以根据谱图信息，添加新的区域并保存当前区域信息。若后续有需求可点击“打开区域”，调用已保存的区域。如果已添加的区域不再需要，将光标放置在需要删除的区域，点击“删除区域”即可。
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PA系列仪器也十分容易操作，只需连接电源，依次打开α谱仪、真空泵和计算机。待α谱仪出现两声“嘀”之后（芯片与路由器已进入工作状态），双击电脑桌面的α谱仪软件图标，进入软件界面，点击“采集”→“连接”，实现通讯连接。将待测样品放入样品盘，确保样品中心与探测器中心轴线一致。设置相关刻度文件：点击“文件”→“优先项”→“文件加载”，根据测试通道和位置，选择相关的能量刻度、效率刻度和核素库。后续测试和分析将默认使用本次设置的文件，无需再次设置。 上海便宜alpha谱仪质量好
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