中源绿净的洁净室环境监测系统，内置能耗统计分析功能，可实时监测并统计系统自身及关联洁净设备（如 FFU、空调、除湿机）的能耗数据，帮助用户掌握能耗分布、识别节能空间、降低洁净管理的能源成本。系统的能耗统计覆盖两类设备：一是自身能耗，通过内置电能计量模块，监测单台设备的电压、电流、功率、耗电量，生成设备能耗日报 / 月报；二是关联洁净设备能耗，通过对接设备的智能电表，获取 FFU、空调等设备的能耗数据，汇总至同一平台。分析功能支持能耗趋势分析（如每日能耗变化、月度能耗对比）、能耗占比分析（如各设备能耗占总能耗的比例）、节能潜力分析（标注能耗异常高的设备，提示优化建议）。中源绿净模块化洁净室，墙面耐擦洗次数达 10000+，为 35 + 食品厂便于清洁维护！苏州0.5um洁净室检测标准对照表
中源绿净的洁净室环境监测系统，具备环境模拟预测功能，基于历史监测数据与机器学习算法，预测未来一段时间内（12 小时 - 7 天）的洁净环境变化趋势，帮助用户提前采取防控措施，避免洁净度超标，提升管理主动性。系统的预测模型通过分析历史数据（如过去 3 个月的微粒浓度、温湿度、生产活动、天气变化），识别影响洁净环境的关键因素（如人员活动高峰、设备启动时段、湿度变化），进而预测未来指标变化。例如通过分析发现，每天上午 9 点 - 11 点因人员返工、设备启动，微粒浓度会上升 15%，系统会预测次日该时段的浓度变化，并标注可能超标的风险。苏州千级洁净室测试国家标准中源绿净模块化洁净室，维护成本比传统低 40%，已服务 60 + 企业，年均节省费用超 20 万！
中源绿净依托物联网技术构建集群联动架构，其 FFU 与洁净度联动系统支持 500 台以上 FFU 按区域分组联动，可根据洁净室布局、生产工序划分多个联动集群，每个集群响应区域内洁净度变化，同时集群间可实现协同调度，避一区域调节对整体环境的影响。系统平台可直观展示各集群 FFU 运行状态与洁净度数据，支持集群参数统一配置与单独调整，满足差异化管理需求。在大型半导体产业园，可按晶圆制造、封装测试、仓储等环节划分联动集群，生产集群采用高频监测与快速调节，辅助区域集群采用节能联动模式；在综合性医疗洁净区，可按手术室、ICU、实验室等分组，不同集群适配不同洁净等级的联动策略。适用场景包括大型洁净室、多区域生产车间、产业园区等，系统集群联动响应时间小于 5 秒，支持集群间数据共享，当某一集群洁净度异常时，相邻集群可提前预警并调整运行状态，形成防护屏障，同时具备负载均衡功能，避免多台 FFU 同时高速运行导致的能耗峰值，实现管控效果与节能目标的平衡。
中源绿净的洁净室环境监测系统，在晶圆制造的光刻车间，超小粒径监测与电磁抗干扰功能结合，可保障光刻过程的环境稳定，避免微粒与电磁干扰影响光刻精度；在芯片封装的引线键合车间，系统与 FFU 的联动控制可快速应对洁净度波动，确保键合过程中芯片与引线的连接质量；在半导体材料仓储区，系统同步监测温湿度与微粒浓度，防止材料受潮或受污染，保障后续生产的原料质量。此外，系统还支持半导体行业特有的 “无尘室分区监测”，可根据车间内的洁净级别（如 1 级、10 级、100 级）划分监测区域，每个区域设置的监测参数与预警阈值，满足不同生产环节的差异化需求。中源绿净的洁净度环境监测系统，通过电子半导体行业的定制功能，为企业解决了行业特有的监测痛点，成为半导体生产过程中不可或缺的环境管控工具。中源绿净为 45 + 半导体车间建模块化洁净室，防静电指数达标率 100%，减少芯片损坏率！
中源绿净智能洁净室物联网平台，可接入手术部空调系统、新风系统、照明系统等设备的能耗数据，结合洁净度监测数据（粒子浓度、浮游菌浓度、温湿度），生成 “洁净度 - 能耗” 关联分析报告，平台能耗数据采集精度达 ±1%，数据更新间隔为 15 分钟。医院手术部为维持高洁净度，空调、新风系统需 24 小时运行，能耗占医院总能耗的 30% 以上，若关注洁净度而忽视能耗，将增加医院运营成本。该平台通过分析洁净度与能耗的关联性，识别能耗优化空间，例如当某 I 级手术间温湿度维持在 23℃、45%（符合规范要求）时，平台数据显示空调系统当前能耗高于同类型手术间 15%，进一步分析发现是空调风机转速设置过高，在不影响洁净度的前提下，将转速降低 10%，每月可节省能耗费用约 1200 元。中源绿净的模块化洁净室，防火等级达 A 级，为 30 + 化工实验室提升安全系数 60%！广东洁净室在线监测
中源绿净的模块化洁净室，新风量可调范围 10-50m³/h・人，为 25 + 企业按需节能！苏州0.5um洁净室检测标准对照表
中源绿净深耕半导体行业需求，其 FFU 与洁净度联动系统专为半导体车间设计，支持从晶圆制造、光刻、蚀刻到封装测试的全流程 FFU 联动，可捕捉 0.1μm 以下微粒浓度变化，联动调节 FFU 风速，确保生产环境符合 ISO 1-3 级洁净要求。系统具备抗静电、抗电磁干扰、抗光刻光源干扰设计，可在半导体车间的高频电磁场、紫外光环境中稳定运行，联动数据不受干扰。在晶圆制造车间的光刻工序，系统可通过 FFU 高精度联动，维持 0.1μm 微粒浓度≤10 粒 / 升，避免微粒导致的电路缺陷；在封装测试车间，系统可根据芯片测试区域的洁净度数据，动态调节 FFU 运行状态，确保测试精度。适用场景包括半导体晶圆厂、芯片封装测试车间、LCD/OLED 面板制造车间等，系统支持与 FAB 管理系统对接，实现 FFU 联动数据与生产设备的协同控制，当洁净度异常时，可同步暂停光刻、封装等设备，减少不合格产品产生，同时具备远程校准功能，可通过网络连接标准粒子发生器，对联动系统进行远程校准，减少人员进入高洁净等级车间的次数，降低环境干扰。苏州0.5um洁净室检测标准对照表
